单晶XRD是一种X射线衍射法，通过对单晶收集数据，解出晶体结构，得到键长、键角一系列数据。它可以精确测量晶格参数和晶胞体积，以及确定晶体中原子的位置和排列方式。

单晶XRD设备在材料科学、金属研究、药物研发等领域都有广泛应用，例如：

1.在材料科学领域：研究人员可以通过单晶XRD设备确定新合成材料的晶体结构，从而研究其性质和应用；

2.在金属研究领域：研究人员可以利用单晶XRD设备研究金属的相变行为，以改善金属的机械性能和耐腐蚀性；

3.在药物研发领域：单晶XRD设备被用于药物分子的结构确认和与目标蛋白结合的研究，有助于药物分子的设计和开发。

单晶XRD设备的原理基于布拉格衍射定律。当X射线照射在晶体上时，晶体中的原子会散射X射线，根据布拉格衍射定律，当X射线入射角和散射角满足一定条件时，会出现衍射峰。通过测量衍射峰的位置和强度，可以计算出晶体的晶格参数、晶体结构以及晶体中的原子位置。

此测试大体测试步骤如下（仅供参考）：

1.将待测样品溶解于溶剂中，通过缓慢蒸发、降温析晶、重结晶、气相扩散等步骤，促使样品在溶剂中逐渐趋于过饱和的状态后，制备得到晶态样品；

2.测量数据：用X射线衍射或电子衍射等方法对样品进行数据收集，将X射线照射到晶体上，晶体中的原子会对X射线产生衍射，形成特定的衍射图样，得到晶体学数据，包括晶胞参数、空间群、原子位置、反射强度等；

3.数据处理：将测量进行积分还原、吸收校正、通过晶胞参数、消光特征、等效点判断晶格类型、确定正确空间群，然后使用Patterson函数法、直接法、charge flipping法等求得晶胞独立区内全部或部分原子坐标；

4.结果分析：将待测样对计算得到的结果进行分析和验证，结合待测物质的已知信息，把差分电荷密度图中各个电子云峰值指认成合适的原子。把所得结构模型作为输入文件，使用基于F2的Fourier合成或差值Fourier合成及最小二乘修正方法进行精修，精修过程将调整各个原子的位置和热椭球参数，使得结构模型更符合实测数据。