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形貌分析TEM

99.0% 好评率

仪器型号:JEM-2100plus

预约次数:1869次

服务周期:收到样品后平均3.0-5.0工作日完成

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部分论文致谢

项目简介

本台设备主要拍摄形貌和衍射(可拍到5nm标尺),加速电压200kv,点分辨率0.194nm,放大倍数x 2,000 – 1000,000,超高分辨UHR材料极靴,可以打衍射。

测试模块

样品要求

1. 粉体、液体可测试,薄膜或块状样品不能直接拍摄,请另行预约制样(如离子减薄、包埋切片、FIB等)

2. 样品的厚度不超过100nm,如果颗粒稍大一点,可适当研磨至100nm以下(可先拍SEM判定颗粒大小);

3. 一般制样选微珊铜网即可,如果颗粒直径小于10nm用超薄碳膜制样;

4. 磁性样品不接受自己制样。

常见问题